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产业发展
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产业发展
- 手机测试及设计技术研讨会暨福田设计园DSP设计开发实验室揭牌仪式
- 2008年06月24日 来源:SOC实验室 点击率:
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国家集成电路设计深圳产业化基地福田设计园技术讲座系列
时间: 2008年6月27日 星期五14:00 ~ 17:00
地点: 深圳市福田区天安数码城科技创业园大厦A 座307室
主办: 国家集成电路设计深圳产业化基地福田设计园
深圳集成电路设计创业发展有限公司
协办: 爱德万测试(上海)有限公司
莎益博设计系统商贸(上海)有限公司
北京芯慧同用微电子技术有限公司
联系人:杨小姐 电话:86-755-26972628 传真:86-755-26984848
Email:yanghn@sziccs.com
研讨会简介:
一、福田设计园DSP设计开发实验室揭牌仪式及产品演示
- VLIW结构可配置DSP与移动多媒体SOC
- 应用Jazz DSP的VSP100多媒体SOC平台解决方案
- 相关嘉宾参观联合实验室及演示
- 根据来访嘉宾要求安排具体研讨内容
二、通讯/手机类IC测试解决方案 爱德万测试(上海)有限公司
- 最新的通讯/手机类IC的发展趋势和测试技术
- 基带处理芯片的最新测试技术
- RF芯片的最新测试技术
- T2000-满足通讯/手机类IC的测试需要的ATE解决方案
三、Allegro 在高端手机设计中的应用 莎益博设计系统商贸(上海)有限公司
- 手机设计的发展趋势
- SiP技术应用的必然及前景
- 时序设计技巧
- RF设计与PCB设计的结合实现
- 手机外围电路的设计-仿真-实现
座位有限,欢迎预先报名!
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